坐標(biāo)測(cè)量是一種用于測(cè)量零件或部件的幾何尺寸、形狀和相互位置的測(cè)量方法，通過(guò)測(cè)量空間任意的點(diǎn)、線、面以及相互位置，獲得被測(cè)量幾何型面上各測(cè)點(diǎn)的幾何坐標(biāo)尺寸，再由這些點(diǎn)的坐標(biāo)值經(jīng)過(guò)數(shù)學(xué)運(yùn)算求出被測(cè)零部件的幾何尺寸和形狀位置誤差。經(jīng)過(guò)數(shù)十年的發(fā)展，坐標(biāo)測(cè)量從原理上來(lái)看，已經(jīng)從傳統(tǒng)的接觸式測(cè)量擴(kuò)展到非接觸式測(cè)量以及復(fù)合式測(cè)量。

　　接觸式測(cè)量

　　接觸式測(cè)量是指在測(cè)量過(guò)程中測(cè)量工具與被測(cè)工件表面直接接觸而獲得測(cè)點(diǎn)位置信息的測(cè)量方法。目前常見(jiàn)的接觸測(cè)量有三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)。

　　三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是由三個(gè)帶有光柵尺的坐標(biāo)軸組成，當(dāng)測(cè)頭在測(cè)量過(guò)程中移動(dòng)時(shí)，由軟件將走過(guò)的光柵格數(shù)根據(jù)光柵的分辨率記錄并轉(zhuǎn)化為長(zhǎng)度值，然后由數(shù)據(jù)處理軟件進(jìn)行相應(yīng)的數(shù)學(xué)運(yùn)算，求出被測(cè)點(diǎn)的位置以及被測(cè)幾何元素的參數(shù)，如圓的半徑、直徑和圓心位置等。

　　非接觸式測(cè)量

　　非接觸式測(cè)量是指在測(cè)量過(guò)程中測(cè)量工具與被測(cè)工件表面不發(fā)生直接接觸而獲得測(cè)點(diǎn)信息的測(cè)量方法。目前常用的非接觸測(cè)量方法包括：激光掃描、影像測(cè)量、照相測(cè)量和工業(yè) CT 掃描等。

　　激光掃描是近二十年發(fā)展起來(lái)的一項(xiàng)新的測(cè)量工藝，其原理是由半導(dǎo)體激光器發(fā)出的激光通過(guò)聚光透鏡在被測(cè)曲面上結(jié)成光點(diǎn)并反射，光敏元件（如 PSD）接收其散射光，根據(jù)其在 PSD 上的位置，即可測(cè)出被測(cè)點(diǎn)的空間坐標(biāo)。

　　影像測(cè)量是由光學(xué)放大系統(tǒng)對(duì)被測(cè)物體進(jìn)行放大，經(jīng)過(guò) CCD 攝像系統(tǒng)采集影像特征并送入計(jì)算機(jī)后，高效地檢測(cè)各種復(fù)雜精密零部件的輪廓和表面形狀尺寸、角度及位置，進(jìn)行微觀檢測(cè)與質(zhì)量控制。

　　照相測(cè)量是指利用相機(jī)對(duì)物體多個(gè)角度測(cè)量得到圖像信息，再根據(jù)空間物體投影原理，利用物體表面的標(biāo)志點(diǎn)信息對(duì)物體進(jìn)行三維空間位置的換算，進(jìn)而求出物體表面標(biāo)志點(diǎn)的三維信息。

　　工業(yè) CT 掃描是用計(jì)算機(jī)斷層成像技術(shù)指應(yīng)用于工業(yè)中的核成像技術(shù)。其基本原理是依據(jù)輻射在被檢測(cè)物體中的減弱和吸收特性。同物質(zhì)對(duì)輻射的吸收本領(lǐng)與物質(zhì)性質(zhì)有關(guān)。所以，利用放射性核素或其他輻射源發(fā)射出的、具有一定能量和強(qiáng)度的 X 射線或 γ 射線，在被檢測(cè)物體中的衰減規(guī)律及分布情況，就有可能由探測(cè)器陳列獲得物體內(nèi)部的詳細(xì)信息，最后用計(jì)算機(jī)信息處理和圖像重建技術(shù)，以圖像形式顯示出來(lái)。

　　復(fù)合式測(cè)量

　　復(fù)合式測(cè)量是指在同一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)上集成兩個(gè)以上的測(cè)量工藝或方法，常見(jiàn)的復(fù)合式測(cè)量機(jī)有三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)與激光掃描的集成、三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)與圖像測(cè)量的集成，以及上述三種測(cè)量工藝的集成等。復(fù)合式測(cè)量系統(tǒng)的優(yōu)點(diǎn)是利用同一臺(tái)測(cè)量機(jī)，可以測(cè)量一個(gè)零件的不同特征，從而使測(cè)量的結(jié)果更準(zhǔn)確，效率更高，并節(jié)約機(jī)器的購(gòu)置成本。

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